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SJ/T 11339-2015数字电视等离子体显示器通用规范
2024-11-11
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SJ/T 11343-2015数字电视液晶显示器通用规范
2024-11-11
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SJ/T 11543-2015前投影机光学引擎技术要求及测量方法
2024-11-11
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SJ/T 11544-2015数字电视背投影显示器光学引擎技术要求及测量方法
2024-11-11
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SJ/T 11545-2015微显投影机用交流超高压汞灯通用规范
2024-11-11
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SJ/T 11407.3.2-2015数字接口内容保护系统技术规范 第3-2部分:DTV-CI内容保护系统测试规范
2024-11-11
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SJ/T 11407.3.1-2015数字接口内容保护系统技术规范 第3-1部分:DTV-CI内容保护系统技术规范
2024-11-11
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SJ/T 11549-2015晶体硅光伏组件用免清洗助焊剂
2024-11-11
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SJ/T 11550-2015晶体硅光伏组件用浸锡焊带
2024-11-11
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SJ/T 10414-2015半导体器件用焊料
2024-11-11
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SJ/T 11011-2015电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法
2024-11-11
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SJ/T 10753-2015电子器件用金、银及其合金钎料
2024-11-11
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SJ/T 10754-2015电子器件用金、银及其合金钎料分析方法 清洁性、溅散性的测定
2024-11-11
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SJ/T 11029-2015电子器件用金镍纤料的分析方法 EDTA容量法测定镍
2024-11-11
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SJ/T 11030-2015电子器件用金铜及金镍纤料中杂质 铅、锌、磷的ICP-AES测定方法
2024-11-11
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SJ/T 11028-2015电子器件用金铜钎料的分析方法 EDTA容量法测定铜
2024-11-11
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SJ/Z 2808-2015印制板组装件热设计
2024-11-11
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SJ/T 11551-2015高密度互连印制电路用涂树脂铜箔
2024-11-11
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SJ/T 11552-2015以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
2024-11-11
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SJ/T 11553-201593%氧化铝真空电子用陶瓷
2024-11-11
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SJ/T 11554-2015用电感耦合等离子体发射光谱法测定氢氟酸中金属元素的含量
2024-11-11
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SJ/T 11555-2015用电感耦合等离子体质谱法测定硝酸中金属元素的含量
2024-11-11
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SJ/T 11556-2015用原子吸收光谱测定硝酸溶剂中银、金、钙、铜、铁、钾和钠的含量
2024-11-11
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SJ/T 11557-2015低压复合式开关总规范
2024-11-11
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SJ/T 11558.5-2015LED驱动电源 第5部分:测试方法
2024-11-11
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SJ/T 2089-2015电子测量仪器型号命名方法
2024-11-11
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SJ/T 2658.1-2015半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
2024-11-11
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SJ/T 2658.2-2015半导体红外发射二极管测量方法 第2部分:正向电压
2024-11-11
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SJ/T 2658.3-2015半导体红外发射二极管测量方法 第3部分:反向电压和反向电流
2024-11-11
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SJ/T 2658.4-2015半导体红外发射二极管测量方法 第4部分:总电容
2024-11-11
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SJ/T 2658.5-2015半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻
2024-11-11
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SJ/T 2658.6-2015半导体红外发射二极管测量方法 第6部分:辐射功率
2024-11-11
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SJ/T 2658.7-2015半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量
2024-11-11
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SJ/T 2658.8-2015半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度
2024-11-11
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SJ/T 2658.9-2015半导体红外发射二极管测量方法 第9部分:辐射强度空间分布和半强度角
2024-11-11
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SJ/T 2658.10-2015半导体红外发射二极管测量方法 第10部分:调制带宽
2024-11-11
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SJ/T 2658.11-2015半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间
2024-11-11
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SJ/T 2658.12-2015半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽
2024-11-11
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SJ/T 2658.13-2015半导体红外发射二极管测量方法 第13部分:辐射功率温度系数
2024-11-11
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SJ/T 11435-2015信息技术服务 服务管理 技术要求
2024-11-11
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