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GB/T 4937.38-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
| 发布用户： | 发布时间：2025-12-10 |
| 文件类别：正版文档 | 文件格式：PDF |
资料描述：
GB/T 4937.38-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法